ГОСТы
 

ГОСТ 8.003-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки



Статус: действующий

12.01.2012
Введение: 01.03.2012
Актуализация текста: 06.04.2015
Актуализация описания: 06.04.2015
Последние изменение: 16.01.2015
Окончания срока действия: 01.01.1970
Взамен: ГОСТ 8.003-83

Сохранить ГОСТ 8003-2010 в ZIPСкачать ГОСТ 8.003-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки

Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодической поверок инструментальных микроскопов всех типов, по ГОСТ 8074. Стандарт распространяется также на отечественные инструментальные микроскопы с характеристиками, аналогичными приведенным в ГОСТ 8074
ГОСТ 8.003-2010, страница 1.
ГОСТ 8.003-2010, страница 2.
ГОСТ 8.003-2010, страница 3.
ГОСТ 8.003-2010, страница 4.
ГОСТ 8.003-2010, страница 5.
ГОСТ 8.003-2010, страница 6.
ГОСТ 8.003-2010, страница 7.
ГОСТ 8.003-2010, страница 8.
ГОСТ 8.003-2010, страница 9.
ГОСТ 8.003-2010, страница 10.
ГОСТ 8.003-2010, страница 11.
ГОСТ 8.003-2010, страница 12.
ГОСТ 8.003-2010, страница 13.
ГОСТ 8.003-2010, страница 14.
ГОСТ 8.003-2010, страница 15.
ГОСТ 8.003-2010, страница 16.
ГОСТ 8.003-2010, страница 17.
ГОСТ 8.003-2010, страница 18.
ГОСТ 8.003-2010, страница 19.
ГОСТ 8.003-2010, страница 20.
ГОСТ 8.003-2010, страница 21.
ГОСТ 8.003-2010, страница 22.
ГОСТ 8.003-2010, страница 23.
ГОСТ 8.003-2010, страница 24.