ГОСТы
 

ГОСТ 27981.3-88
Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра



Статус: заменён

20.06.1989
Введение: 01.01.1990
Актуализация текста: 06.04.2015
Актуализация описания: 06.04.2015
Последние изменение: 16.01.2015
Окончания срока действия: 31.03.2010
Заменен: ГОСТ 31382-2009

Сохранить ГОСТ 279813-88 в ZIPСкачать ГОСТ 27981.3-88
Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно - спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

Настоящий стандарт устанавливает эмиссионно-спектральный метод определения примесей в меди высокой чистоты в диапазонах массовых долей х.10 в ст. минус 4. Метод основан на измерении интенсивностей спектральных линий определяемых элементов на дифракционном спектрометре типа МФС-6, МФС-8. Спектр излучения возбуждается дугой постоянного тока между подставным графитовым электродом и таблеткой оксида меди, полученной путем растворения пробы в азотной кислоте и термическом разложении солей
ГОСТ 27981.3-88, страница 1.
ГОСТ 27981.3-88, страница 2.
ГОСТ 27981.3-88, страница 3.
ГОСТ 27981.3-88, страница 4.
ГОСТ 27981.3-88, страница 5.
ГОСТ 27981.3-88, страница 6.
ГОСТ 27981.3-88, страница 7.
ГОСТ 27981.3-88, страница 8.
ГОСТ 27981.3-88, страница 9.
ГОСТ 27981.3-88, страница 10.
ГОСТ 27981.3-88, страница 11.
ГОСТ 27981.3-88, страница 12.
ГОСТ 27981.3-88, страница 13.
ГОСТ 27981.3-88, страница 14.